薄膜卷绕
适用于薄膜的卷绕测试
柔性电子的出现为经典电子学的发展提供了新的方向,触发了新形态电子设备的产生。然而,电子材料与器件由刚向柔转变过程中,传统的刚性测试方法变得无法完全适应,而相匹配的柔性测试体系对推进柔性电子行业的发展变得必不可少。 在柔性电子材料与器件的测试过程中,尤其是在柔性电子材料与器件开发验证的初期阶段,发展一种高自由度的模块化柔性材料与器件测试系统,对于提升开发验证效率和降低测试成本具有重要意义。
柔性电子的出现为经典电子学的发展提供了新的方向,触发了新形态电子设备的产生。然而,电子材料与器件由刚向柔转变过程中,传统的刚性测试方法变得无法完全适应,而相匹配的柔性测试体系对推进柔性电子行业的发展变得必不可少。 在柔性电子材料与器件的测试过程中,尤其是在柔性电子材料与器件开发验证的初期阶段,发展一种高自由度的模块化柔性材料与器件测试系统,对于提升开发验证效率和降低测试成本具有重要意义。
产品特性:
【1】大曲率、大面积样品;
【2】高稳定性;
【3】卷轴可选择(5-lOOmm);
【4】可扩展性(光学、电学性能测试辅助系统)。
适用范围:可穿戴电子、柔性电子、可拉伸材料材料与器件的拉伸测试。
运行方式:
产品参数
项目 |
参数 |
样品厚度(mm) |
0-3 |
样品宽度(mm) |
0-200 |
缠绕数量(圈) |
3 |
扭转速度(°) |
0-1080 |
扭转力(N.m) |
5.0 |
辊直径(mm) |
5-100 |
重量(Kg) |
20 |
产品尺寸